ExLibris header image
 

SFX by Ex Libris Inc.

Contains information about title and source of a journal
Naslov: 表面プラズモン・導波モード同時励起型全反射減衰法によるＳｉＯ２配向膜上５ＣＢ液晶分子の配向評価
Vir:

電気学会論文誌Ａ（基礎・材料・共通部門誌） [0385-4205] Ikarashi, Aya l. 2010, letn. 130, št. 2, stran 193 -197

List of services to meet your request

Contains list of services for current record

Basic services

Celotno besedilo

service type icon, opens target in new window
Celotno besedilo dostopno v
EZB-FREE-00999 freely available EZB journals
 
 
  Dostopnost: Odprti / prosti dostop ali arhiv.
(Opozorilo: pri nekaterih revijah so lahko dostopna le celotna besedila posameznih člankov ali posameznih številk določenega letnika).


service type icon, opens target in new window
Odprtodostopna verzija celotnega besedila preko servisa
Unpaywall
 
 
  Opomba: Prost dostop do celotnega besedila preko servisa Unpaywall.

Celotno besedilo

service type icon, opens target in new window
Celotno besedilo morda dostopno preko oznake
DOI

Zaloga po knjižnicah

service type icon, opens target in new window
Preverjanje zaloge po knjižnicah
COBISS+


© 2024 SFX by Ex Libris Inc. | Politika piškotkov
CrossRef Omogočeno