SFX by Ex Libris Inc.

Contains information about title and source of a journal
Naslov:	A Diagnostic Point of View for the Optimization of Preparation Costs in Runtime Testing
Vir:	2011 IEEE Fourth International Conference on Software Testing, Verification and Validation Workshops Sanchez, Alberto l. 2011, stran 654 -660

List of services to meet your request

	Celotno besedilo dostopno v IEEE Electronic Library (IEL) Sporočite napako
	Opomba: Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
	Dostopnost: Dostopno iz prostorov UL, CTK, NIB in NUK. Oddaljen dostop za študente in zaposlene UL, CTK, NIB in NUK, ki so člani knjižnic teh inštitucij. Če se nahajate izven svoje inštitucije, po kliku na povezavo vpišite geslo za odd. dostop.

	Celotno besedilo dostopno v IEEE Electronic Library (IEL) Conference Proceedings Sporočite napako
	Opomba: Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
	Dostopnost: Dostopno iz prostorov UL, CTK, NIB in NUK. Oddaljen dostop za študente in zaposlene UL, CTK, NIB in NUK, ki so člani knjižnic teh inštitucij. Če se nahajate izven svoje inštitucije, po kliku na povezavo vpišite geslo za odd. dostop.