Jezik:
Slovenski
English
SFX by Ex Libris Inc.
Contains information about title and source of a journal
Naslov:
Epitaxy of In0.01Ga0.99As on Ge/offcut Si (001) virtual substrate
Vir:
Thin Solid Films [0040-6090] Hu, Weixuan l. 2012, letn. 520, št. 16, stran 5361 -5366
List of services to meet your request
Contains list of services for current record
Basic services
Celotno besedilo
Celotno besedilo dostopno v
Elsevier ScienceDirect Journals Complete
Sporočite napako
Hvala za posredovanje sporočila o napaki.
Leto:
Letnik:
Številka:
Začetna stran:
Opomba: Dostop do revije v okviru konzorcija ScienceDirect zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
Dostopnost:
Dostopno iz prostorov UL, CTK, NIB in NUK. Oddaljen dostop za študente in zaposlene UL, CTK, NIB in NUK, ki so člani knjižnic teh inštitucij.
Če se nahajate izven svoje inštitucije, po kliku na povezavo vpišite geslo za odd. dostop.
Celotno besedilo
Celotno besedilo morda dostopno preko oznake
DOI
Zaloga po knjižnicah
Preverjanje zaloge po knjižnicah
COBISS+
Več možnosti
Dodatne storitve
Kazalo vsebine
Poglejte kazalo vsebine v
EBSCOhost Academic Search Complete
Sporočite napako
Hvala za posredovanje sporočila o napaki.
Leto:
Letnik:
Številka:
Opomba: Dostop do revije v okviru konzorcija EBSCOHost zagotavlja Narodna in univerzitetna knjižnica (NUK).
Dostopnost:
Dostopno iz prostorov UL, CTK in NUK. Oddaljen dostop za študente in zaposlene UL ter vse člane knjižnic UL, CTK in NUK.
Če se nahajate izven UL, po kliku na povezavo vpišite geslo za oddaljeni dostop.
Avtor
Poiščite druge članke avtorja v
Web of Science
avtor:
Hu, Weixuan
Cheng, Buwen
Xue, Chunlai
Su, Shaojian
Liu, Zhi
Li, Yaming
Wang, Qiming
Wang, Liangjun
Liu, Jiangqing
Ding, Jie
Lin, Guijiang
Lin, Zhidong
priimek
kratice
Opomba: Dostop do servisa v okviru konzorcija WoS zagotavlja Institut informacijskih znanosti (IZUM). V primeru težav pri dostopu se obrnite na e-poštni naslov
podpora@izum.si
.
Dostopnost:
Dostop je mogoč za članice konzorcija
WoS
.
Informacija o objavi
Poglejte faktor vpliva serijskih publikacij iz
ISI's Journal Citation Report (JCR) Science Edition
Opomba: Dostop do servisa v okviru konzorcija WoS zagotavlja Institut informacijskih znanosti (IZUM). V primeru težav pri dostopu se obrnite na e-poštni naslov
podpora@izum.si
.
Dostopnost:
Dostop je mogoč iz prostorov članic konzorcija
WoS
.
© 2024 SFX by Ex Libris Inc. |
Politika piškotkov
CrossRef
Omogočeno