Jezik:
Slovenski
English
SFX by Ex Libris Inc.
Contains information about title and source of a journal
Naslov:
HighâElectronâMobility and AirâStable 2D Layered PtSe2FETs
Vir:
Advanced Materials [0935-9648] Zhao, Yuda l. 2017, letn. 29, št. 5,
List of services to meet your request
Contains list of services for current record
Basic services
Celotno besedilo
Celotno besedilo dostopno v
Wiley Online Library
Sporočite napako
Hvala za posredovanje sporočila o napaki.
Leto:
Letnik:
Številka:
Začetna stran:
Dostopnost:
Oddaljen dostop za študente in zaposlene Univerze na Primorskem.
Celotno besedilo dostopno v
Wiley Online Library - AutoHoldings Journals
Sporočite napako
Hvala za posredovanje sporočila o napaki.
Leto:
Letnik:
Številka:
Začetna stran:
Dostopnost:
Dostop je mogoč iz prostorov Univerze na Primorskem.
Celotno besedilo za ostale izdaje
Pripada k:
Advanced Optical Materials [2195-1071]
Celotno besedilo dostopno v
Wiley Online Library
Sporočite napako
Hvala za posredovanje sporočila o napaki.
Leto:
Letnik:
Številka:
Začetna stran:
Dostopnost:
Oddaljen dostop za študente in zaposlene Univerze na Primorskem.
Celotno besedilo dostopno v
Wiley Online Library - AutoHoldings Journals
Sporočite napako
Hvala za posredovanje sporočila o napaki.
Leto:
Letnik:
Številka:
Začetna stran:
Dostopnost:
Dostop je mogoč iz prostorov Univerze na Primorskem.
Celotno besedilo
Celotno besedilo morda dostopno preko oznake
DOI
Več možnosti
Več možnosti
Avtor
Poiščite druge članke avtorja v
Web of Science
avtor:
Zhao, Yuda
Qiao, Jingsi
Yu, Zhihao
Yu, Peng
Xu, Kang
Lau, Shu P
Zhou, Wu
Liu, Zheng
Wang, Xinran
Ji, Wei
Chai, Yang
priimek
kratice
Opomba: Dostop do servisa v okviru konzorcija WoS zagotavlja Institut informacijskih znanosti (IZUM). V primeru težav pri dostopu se obrnite na e-poštni naslov
podpora@izum.si
.
Dostopnost:
Dostop je mogoč za članice konzorcija
WoS
.
Informacija o objavi
Poglejte faktor vpliva serijskih publikacij iz
ISI's Journal Citation Report (JCR) Science Edition
Opomba: Dostop do servisa v okviru konzorcija WoS zagotavlja Institut informacijskih znanosti (IZUM). V primeru težav pri dostopu se obrnite na e-poštni naslov
podpora@izum.si
.
Dostopnost:
Dostop je mogoč iz prostorov članic konzorcija
WoS
.
© 2024 SFX by Ex Libris Inc. |
Piškotki
CrossRef
Omogočeno