SFX by Ex Libris Inc.

Naslov:

Thick film PN‐junctions based on mixed oxides of indium and silicon as gamma radiation sensors

Vir:

Microelectronics International [1356-5362] Arshak, Khalil l. 2004, letn. 21, št. 1, str. 19 -27

List of services to meet your request

Basic services

Celotno besedilo

Celotno besedilo dostopno v

Emerald eJournals Premier

Leto:

Letnik:

Številka:

Začetna stran:

Opomba: Dostop do revije v okviru konzorcija Emerald zagotavlja Narodna in univerzitetna knjižnica (NUK).

Dostopnost: Dostop je mogoč iz prostorov Univerze na Primorskem.

Celotno besedilo dostopno v

Emerald eJournals Premier

Leto:

Letnik:

Številka:

Začetna stran:

Opomba: Dostop do revije v okviru konzorcija Emerald zagotavlja Narodna in univerzitetna knjižnica (NUK).

Dostopnost: Oddaljen dostop za študente in zaposlene Univerze na Primorskem.

Celotno besedilo za ostale izdaje

Pripada k: Circuit World [0305-6120]

Celotno besedilo dostopno v

Emerald eJournals Premier

Leto:

Letnik:

Številka:

Začetna stran:

Opomba: Dostop do revije v okviru konzorcija Emerald zagotavlja Narodna in univerzitetna knjižnica (NUK).

Dostopnost: Dostop je mogoč iz prostorov Univerze na Primorskem.

Celotno besedilo dostopno v

Emerald eJournals Premier

Leto:

Letnik:

Številka:

Začetna stran:

Opomba: Dostop do revije v okviru konzorcija Emerald zagotavlja Narodna in univerzitetna knjižnica (NUK).

Dostopnost: Oddaljen dostop za študente in zaposlene Univerze na Primorskem.

Pripada k: Soldering & Surface Mount Technology [0954-0911]

Celotno besedilo dostopno v

Emerald eJournals Premier

Leto:

Letnik:

Številka:

Začetna stran:

Opomba: Dostop do revije v okviru konzorcija Emerald zagotavlja Narodna in univerzitetna knjižnica (NUK).

Dostopnost: Dostop je mogoč iz prostorov Univerze na Primorskem.

Celotno besedilo dostopno v

Emerald eJournals Premier

Leto:

Letnik:

Številka:

Začetna stran:

Opomba: Dostop do revije v okviru konzorcija Emerald zagotavlja Narodna in univerzitetna knjižnica (NUK).

Dostopnost: Oddaljen dostop za študente in zaposlene Univerze na Primorskem.

Več možnosti

Več možnosti

Informacija o objavi

	Poglejte faktor vpliva serijskih publikacij iz ISI's Journal Citation Report (JCR) Science Edition
	Opomba: Dostop do servisa v okviru konzorcija WoS zagotavlja Institut informacijskih znanosti (IZUM). V primeru težav pri dostopu se obrnite na e-poštni naslov podpora@izum.si.
	Dostopnost: Dostop je mogoč iz prostorov članic konzorcija WoS.