ExLibris header image
 

SFX by Ex Libris Inc.

Contains information about title and source of a journal
Naslov: Hydrogen purging during growth interruptions and its effect on electron transport in InP/InGaAs/InP HFETS grown by LP-MOVPE
Vir:

Proceedings of 1994 IEEE 6th International Conference on Indium Phosphide and Related Materials (IPRM) Kohl, A l. 1994, str. 151 -154

List of services to meet your request

Contains list of services for current record


  Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
  Dostopno iz prostorov UL, CTK, NIB in NUK. Oddaljen dostop za študente in zaposlene UL, CTK, NIB in NUK, ki so člani knjižnic teh inštitucij.
Če se nahajate izven svoje inštitucije, po kliku na povezavo vpišite geslo za odd. dostop.


  Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
  Dostop je mogoč iz prostorov Univerze v Mariboru in z oddaljenim dostopom za študente in zaposlene na Univerzi v Mariboru.


  Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
  Dostop je mogoč iz prostorov Institutucij članic konzorcija IEEE Xplore (IJS, UL, UM).


  Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
  Dostop je mogoč iz prostorov Institutucij članic konzorcija IEEE Xplore (IJS, UL, UM).


  Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
  Dostopno iz prostorov UL, CTK, NIB in NUK. Oddaljen dostop za študente in zaposlene UL, CTK, NIB in NUK, ki so člani knjižnic teh inštitucij.
Če se nahajate izven svoje inštitucije, po kliku na povezavo vpišite geslo za odd. dostop.


  Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
  Dostop je mogoč iz prostorov Univerze v Mariboru in z oddaljenim dostopom za študente in zaposlene na Univerzi v Mariboru.





 
 

 
 
 

 
 
 


© 2024 SFX by Ex Libris Inc. | Cookie Policy
CrossRef Omogočeno