ExLibris header image

SFX by Ex Libris Inc.

Contains information about title and source of a journal
Naslov:	Improving Fault Tolerance by Using Reconfigurable Asynchronous Circuits
Vir:	2008 11th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Friesenbichler, Werner l. 2008, str. 1 -4

List of services to meet your request

	Celotno besedilo dostopno v IEEE Electronic Library (IEL) Sporočite napako Hvala za sporočilo o napaki.
	Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
	Dostopno iz prostorov UL, CTK, NIB in NUK. Oddaljen dostop za študente in zaposlene UL, CTK, NIB in NUK, ki so člani knjižnic teh inštitucij. Če se nahajate izven svoje inštitucije, po kliku na povezavo vpišite geslo za odd. dostop.

	Celotno besedilo dostopno v IEEE Electronic Library (IEL) Sporočite napako Hvala za sporočilo o napaki.
	Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
	Dostop je mogoč iz prostorov Univerze v Mariboru in z oddaljenim dostopom za študente in zaposlene na Univerzi v Mariboru.

	Celotno besedilo dostopno v IEEE Electronic Library (IEL) Sporočite napako Hvala za sporočilo o napaki.
	Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
	Dostop je mogoč iz prostorov Institutucij članic konzorcija IEEE Xplore (IJS, UL, UM).

	Celotno besedilo dostopno v IEEE Electronic Library (IEL) Conference Proceedings Sporočite napako Hvala za sporočilo o napaki.
	Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
	Dostop je mogoč iz prostorov Institutucij članic konzorcija IEEE Xplore (IJS, UL, UM).

	Celotno besedilo dostopno v IEEE Electronic Library (IEL) Conference Proceedings Sporočite napako Hvala za sporočilo o napaki.
	Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
	Dostopno iz prostorov UL, CTK, NIB in NUK. Oddaljen dostop za študente in zaposlene UL, CTK, NIB in NUK, ki so člani knjižnic teh inštitucij. Če se nahajate izven svoje inštitucije, po kliku na povezavo vpišite geslo za odd. dostop.

	Celotno besedilo dostopno v IEEE Electronic Library (IEL) Conference Proceedings Sporočite napako Hvala za sporočilo o napaki.
	Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
	Dostop je mogoč iz prostorov Univerze v Mariboru in z oddaljenim dostopom za študente in zaposlene na Univerzi v Mariboru.

Celotno besedilo morda dostopno preko oznake

DOI

Preverjanje zaloge po knjižnicah

COBISS+

Poglejte oceno knjige v

Amazon.com

Upravljanje z zapisi v

RefWorks Direct Export Tool

Preveri

Google Book Search


Iskalni pojmi:

NaslovAvtorISBNSplošno

Poiščite sorodne informacije v

Google Scholar


Iskalni pojmi:

Poiščite sorodne informacije v

Web Search Engine


Iskalni pojmi:

© 2024 SFX by Ex Libris Inc. | Cookie Policy
CrossRef Omogočeno