SFX by Ex Libris Inc.

Naslov:

Reliable on-chip systems in the nano-era

Vir:

Proceedings of the 50th Annual Design Automation Conference [0738-100X] Henkel, Jörg l. 2013, str. 1 -10

List of services to meet your request

	Celotno besedilo dostopno v ACM Digital Library Complete Sporočite napako Hvala za sporočilo o napaki.
	Dostopno iz prostorov UL, CTK, NIB in NUK. Oddaljen dostop za študente in zaposlene UL, CTK, NIB in NUK, ki so člani knjižnic teh inštitucij. Če se nahajate izven svoje inštitucije, po kliku na povezavo vpišite geslo za oddaljeni dostop.

	Celotno besedilo dostopno v IEEE Electronic Library (IEL) Sporočite napako Hvala za sporočilo o napaki.
	Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
	Dostop je mogoč iz prostorov Institutucij članic konzorcija IEEE Xplore (IJS, UL, UM).

	Celotno besedilo dostopno v IEEE Electronic Library (IEL) Sporočite napako Hvala za sporočilo o napaki.
	Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
	Dostopno iz prostorov UL, CTK, NIB in NUK. Oddaljen dostop za študente in zaposlene UL, CTK, NIB in NUK, ki so člani knjižnic teh inštitucij. Če se nahajate izven svoje inštitucije, po kliku na povezavo vpišite geslo za odd. dostop.

	Celotno besedilo dostopno v IEEE Electronic Library (IEL) Sporočite napako Hvala za sporočilo o napaki.
	Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
	Dostop je mogoč iz prostorov Univerze v Mariboru in z oddaljenim dostopom za študente in zaposlene na Univerzi v Mariboru.

	Celotno besedilo dostopno v IEEE Electronic Library (IEL) Conference Proceedings Sporočite napako Hvala za sporočilo o napaki.
	Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
	Dostop je mogoč iz prostorov Institutucij članic konzorcija IEEE Xplore (IJS, UL, UM).

	Celotno besedilo dostopno v IEEE Electronic Library (IEL) Conference Proceedings Sporočite napako Hvala za sporočilo o napaki.
	Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
	Dostopno iz prostorov UL, CTK, NIB in NUK. Oddaljen dostop za študente in zaposlene UL, CTK, NIB in NUK, ki so člani knjižnic teh inštitucij. Če se nahajate izven svoje inštitucije, po kliku na povezavo vpišite geslo za odd. dostop.

	Celotno besedilo dostopno v IEEE Electronic Library (IEL) Conference Proceedings Sporočite napako Hvala za sporočilo o napaki.
	Dostop v okviru konzorcija IEEE Xplore zagotavlja Centralna tehniška knjižnica (CTK) UL.
	Dostop je mogoč iz prostorov Univerze v Mariboru in z oddaljenim dostopom za študente in zaposlene na Univerzi v Mariboru.

Preverjanje zaloge po knjižnicah

COBISS+

Celotno besedilo morda dostopno preko oznake

DOI

Poglejte oceno knjige v

Amazon.com

Upravljanje z zapisi v

RefWorks Direct Export Tool

Preveri

Google Book Search


Iskalni pojmi:

NaslovAvtorISBNSplošno

Poiščite sorodne informacije v

Google Scholar


Iskalni pojmi:

Poiščite sorodne informacije v

Web Search Engine


Iskalni pojmi: